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衰减全反射- 红外光谱和模式识别结合对温室不同种类杂草鉴别技术研究 |
马 伟,王 秀,李翠玲,等 |
北京农业智能装备技术研究中心 |
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Wei Ma |
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摘要 利用ATR对温室生长的杂草叶片进行活体检测,利用红外光谱的指纹特征属性,构建杂草样本的红外指纹图谱,将其作为模式识别(SCMIA)提取的特征数据,以此建立聚类分析数学模型,运用该模型对温室生长的杂草活体样本进行种类模式识别研究。结果表明采用这种方法建立的数学模型具有显著的分类和鉴别能力,同时具备较高的准确性、可靠性以及分辨能力,为机械系统识别传感杂草的研究提供了一种新方法。
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关键词 :
智能温室,
杂草
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收稿日期: 2017-05-02
出版日期: 2017-06-01
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引用本文: |
马 伟,王 秀,李翠玲,等. 衰减全反射- 红外光谱和模式识别结合对温室不同种类杂草鉴别技术研究[J]. 农业工程技术(温室园艺), 2017, 37(13): 55-56.
Wei Ma. . journal1, 2017, 37(13): 55-56.
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